Твои факты, как я уже говорил, не подкреплены ничем ни теоретически, ни практически. Ссылки на паспорта оборудования от тебя не видел, надеюсь, что ты посмотрел хотя бы размещенную выше. Сказки рассказывать, похоже, твоя специальность.Сообщение от LeshaL
Я уже говорил, что не собираюсь в чем-то кого-то убеждать, тем более в ошибках, выдаваемых приборами. Ты остался при своем мнении, я при своем, это ситуация в споре нормальная.
Предметом нашей дискуссии, начатой с измерения малых токов в режиме охраны, остается то, что мной утверждалось резкая зависимость ВЫВОДОВ от полученных результатов измерений. Тобой утверждается, что все полученные результаты таких измерений неизменны. Я же говорю, что это не так.
ЛешаЛ, делаю вывод, что ты похоже не сталкивался с получением различных данных с одной машины в зависимости от различных условий.
И повторяю, что необходимо при измерениях брать во внимание и погрешности тестера, и температурную нестабильность, а также изменение режимов потребления токов.
Интересующимся рекомендую воспользоваться ссылками на даташиты характерно применяемых ИС в автопроме. Похожие температурные поправки имеют и большие кристаллы, используемые в сигналках, контроллерах и т д
http://www.integral.by/download/146/IL33193NDr.pdf
http://www.syntec.orel.ru/production/drivers/Mainx.htm
http://www.asic.ru/pdf/5507bz1u_tu.pdf
Для совсем заинтересованных яндекс на какую нибудь "температурную зависимость токового потребления интегральных схем" насыпает ссылок на всю оставшуюся жисть.
Факт остается фактом: провести безошибочную оценку энергопотребления в статическом режиме на малых токах можно только в условиях, близких к нормальным. В случае отклонений реальных условий от нормальных - ошибка в выводах (и в измерениях) нарастает в геометрической прогрессии.